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激光共焦荧光寿命成像系统 FastFLIM
ISS推出新一代快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM，具备高达20 fps的成像速度和从1×1到4096×4096像元的分辨率选择能力，能同时获取荧光寿命和共焦强度数据，保持单分子级检测灵敏度。该系统适用于多种学科方向的研究，包括化学、纳米、能源、生物等，并支持多种成像模式如FLIM-FRET、单分子成像等，具备广泛的技术参数和附件选择，能够满足不同实验需求。
产品简介
ISS推出新一代快速荧光寿命成像系统FLIM/PLIM，具备高达20 fps的成像速度和从1×1到4096×4096像元的分辨率选择能力，能同时获取荧光寿命和共焦强度数据，保持单分子级检测灵敏度。该系统适用于多种学科方向的研究，包括化学、纳米、能源、生物等，并支持多种成像模式如FLIM-FRET、单分子成像等，具备广泛的技术参数和附件选择，能够满足不同实验需求。
产品特点
- 实时直读式获得荧光寿命数值及变化趋势，FRET效率分布；
- 选择350nm-1100nm加上900nm-1700nm波长范围检测器，2-4通道检测器，用于成像，FLIM-FRET；
- 可以升级无波长干扰AFM（正置或倒置），实现同区域形貌和FLIM同步测试；
- 紫外-可见-红外激发波长，单波长或超连续激光器；单光子或双光子的激光器。
产品功能
- 双光子的荧光寿命 FLIM/PLIM 成像；
- 深紫外激发的荧光寿命 FLIM / PLIM 成像；266nm 355nm
- 红二区荧光寿命 FLIM /PLIM 成像；
- 激光扫描大视场活体成像 FLIM /PLIM ；
- 光谱采集及光谱成像；
- AFM联用--活细胞工作站联用--冷冻及加热工作台联用；
- 纳米颗粒三维跟踪；（专有技术）
- 激光共焦荧光强度成像LCM；
- 荧光寿命成像FLIM，磷光寿命成像PLIM；
- 上转换荧光（寿命）成像，稀土发光（寿命）成像，延迟荧光（寿命）成像；
- 荧光波动成像FFS（FCS，FCCS, PCH，N&B, RICS， FLCS，scan-FCS）；
- FLIM-FRET成像；荧光定量成像；
- 单量子点发光（寿命）成像，单分子及单分子荧光共振转移成像smFRET，包括交替激发PIE成像；
- 稳态及瞬态偏振成像；
- 微区荧光光谱采集 400-1100nm；
- 反聚束测试（含专业软件）；
- 活细胞工作站升级（含多孔板）。
技术指标
- 荧光寿命测试范围：100ps-100ms；
- 最小时间分辨率≤1ps；
- 数据计数速率：65 MHz/channel
- 检测通道：upto 8 channels；
- 标配xy振镜扫描，5kHz扫描频率，配合xy闭环自动台实现大区域扫描；
- Phasor plots 用于数据分析；
- 光谱采集；400-1100nm
- 扫描透射成像；
- 界面聚焦系统；
- 变温附件；77k-500k。
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